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2010’第三届（天津）国际软件测试大会
2010年4月23日至24日在天津举行 |
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本届大会在2009年第二届大会基础上，继续就有关软件测试行业的热门话题，以及新技术等进行国际间的交流于沟通。我们诚邀上届大会评选出的优秀讲师继续对评选出的热门议题进行更深入探讨，同时聘请国际权威知名的专家顾问对未来软件测试技术的应用和发展进行精彩的演讲。
另外本届大会突破传统会议形式，采取公开招募讲师模式，组委会对讲师自选议题进行甄选评分。此次大会将再次掀起国内外软件测试技术的新风潮，成为业内权威的技术交流平台。
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- 丰富的技术课程
我们诚邀上届大会评选出的优秀讲师继续对评选出的热门话题进行
深入的探讨，同时聘请国际更权威知名的专家顾问对未来软件测试
技术的应用和发展进行精彩的演讲。
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孙乃建
软件开发测试经理，Server & Cloud Interoperability Engineering Team,
微软中国 |
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李延波
现任中兴通讯RFID产品线路径识别产品技术总监 |
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吴新松（中国）
博士，中国电子技术标准化研究所信息技术研究中心基础软件研究室副主任、信息处理产品标准符合性检测中心质量负责人 |
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谷 杰
天津市软件评测中心网络安全技术负责人、咨询部经理，工学学士学位 |
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林 胜
南开大学博士，大宇宙信息创造（中国）有限公司高级工程师 |
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